出願人名に「株式会社アドバン」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特開 2013-258776 | 試験装置 | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月26日 |
| 特開 2013-254832 | ボンディング材、およびその製造方法 | 株式会社アドバンストシステムズジャパン | 2013年12月19日 |
| 特開 2013-253981 | 付着量測定装置、測定方法、プログラム、記録媒体 | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月19日 |
| 特開 2013-250955 | ハードウェア機器 | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月12日 |
| 特開 2013-250248 | 試験システムおよびサーバ | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月12日 |
| 特開 2013-250249 | 試験システム | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月12日 |
| 特開 2013-250250 | テスターハードウェアおよびそれを用いた試験システム | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月12日 |
| 特開 2013-250251 | テストプログラム | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月12日 |
| 特開 2013-250252 | テストプログラム | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月12日 |
| 特開 2013-251071 | 信号測定装置、信号測定方法、プログラム、記録媒体 | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月12日 |
| 特開 2013-247717 | 電力回生エージング装置 | 株式会社アドバンスド・パワー・テクノロジー | 2013年12月 9日 |
| 特開 2013-241939 | 捕集量測定装置、測定方法、プログラム、記録媒体 | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月 5日 |
| 特開 2013-239870 | 信号測定装置、信号測定方法、プログラム、記録媒体 | 株式会社アドバンテスト | 2013年11月28日 |
| 特開 2013-238926 | 信号処理回路およびそれを用いた試験装置 | 株式会社アドバンテスト | 2013年11月28日 |
| 特開 2013-231788 | 電磁波放射装置 | 株式会社アドバンテスト | 2013年11月14日 |
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2013-258776 2013-254832 2013-253981 2013-250955 2013-250248 2013-250249 2013-250250 2013-250251 2013-250252 2013-251071 2013-247717 2013-241939 2013-239870 2013-238926 2013-231788
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