出願人名に「株式会社アドバン」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5107623 | インプラント用練習器具 | 株式会社アドバンス | 2012年12月26日 |
| 特許 5100086 | インダクタ素子およびその製造方法 | 株式会社アドバンテスト | 2012年12月19日 |
| 特許 5100663 | 試験装置および試験方法 | 株式会社アドバンテスト | 2012年12月19日 |
| 特許 5100217 | プローブカード及び電子部品試験装置 | 株式会社アドバンテスト | 2012年12月19日 |
| 特許 5100601 | 複数のインクリメントを行うリード・モディファイ・ライトサイクルでのヒストグラム生成 | 株式会社アドバンテスト | 2012年12月19日 |
| 特許 5100645 | 試験装置および試験モジュール | 株式会社アドバンテスト | 2012年12月19日 |
| 特許 5100750 | プローブ、プローブカード及びプローブの製造方法 | 株式会社アドバンテスト | 2012年12月19日 |
| 特許 5100751 | プローブおよびプローブカード | 株式会社アドバンテスト | 2012年12月19日 |
| 特許 5087623 | 測定装置およびプログラム | 株式会社アドバンテスト | 2012年12月 5日 |
| 特許 5087704 | 試験装置および救済解析方法 | 株式会社アドバンテスト | 2012年12月 5日 |
| 特許 5087398 | 試験装置及びデバイスインターフェイス装置 | 株式会社アドバンテスト | 2012年12月 5日 |
| 特許 5087533 | ネットワークアナライザ、ネットワーク解析方法、自動校正器、校正方法、プログラムおよび記録媒体 | 株式会社アドバンテスト | 2012年12月 5日 |
| 特許 5087557 | 試験装置 | 株式会社アドバンテスト | 2012年12月 5日 |
| 特許 5087634 | コンタクトアームの接触部の異常を検出する異常検出装置 | 株式会社アドバンテスト | 2012年12月 5日 |
| 特許 5089187 | 増幅制御装置、試験用信号生成モジュール、試験装置、増幅制御方法、プログラム、記録媒体 | 株式会社アドバンテスト | 2012年12月 5日 |
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5107623 5100086 5100663 5100217 5100601 5100645 5100750 5100751 5087623 5087704 5087398 5087533 5087557 5087634 5089187
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