株式会社アドバンの特許登録一覧 2013年

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公報番号	発明の名称	出願人	公報発行日
特許 5379600	パルスエッジシフトによる変調方法および変調器	株式会社アドバンテスト	2013年12月25日
特許 5379844	レーザ発振器	株式会社アドバンテスト　他	2013年12月25日
特許 5378273	コンタクトプローブ及びソケット、チューブ状プランジャの製造方法、並びにコンタクトプローブの製造方法	株式会社アドバンテスト　他	2013年12月25日
特許 5379571	パターン検査装置及びパターン検査方法	株式会社アドバンテスト	2013年12月25日
特許 5379685	試験装置	株式会社アドバンテスト	2013年12月25日
特許 5379742	試験装置、試験方法、およびデバイスインターフェイス	株式会社アドバンテスト	2013年12月25日
特許 5379744	データラッチ回路およびそれを用いた試験装置	株式会社アドバンテスト	2013年12月25日
特許 5368006	走査型電子顕微鏡及び試料観察方法	株式会社アドバンテスト	2013年12月18日
特許 5368086	マルチコラム電子ビーム露光装置及びマルチコラム電子ビーム露光方法	株式会社アドバンテスト	2013年12月18日
特許 5368290	キャリア組立装置	株式会社アドバンテスト	2013年12月18日
特許 5368440	試験システム	株式会社アドバンテスト	2013年12月18日
特許 5368565	半導体ウェハの試験方法及び半導体ウェハ試験装置	株式会社アドバンテスト	2013年12月18日
特許 5368578	固定具	株式会社アドバンテスト	2013年12月18日
特許 5368580	基板装着装置、テストヘッド、及び電子部品試験装置	株式会社アドバンテスト	2013年12月18日
特許 5363480	マルチコラム電子ビーム露光装置及び磁場発生装置	株式会社アドバンテスト	2013年12月11日

263 件中 1-15 件を表示

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5379600 5379844 5378273 5379571 5379685 5379742 5379744 5368006 5368086 5368290 5368440 5368565 5368578 5368580 5363480

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