出願人名に「株式会社アドバン」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5379600 | パルスエッジシフトによる変調方法および変調器 | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月25日 |
| 特許 5379844 | レーザ発振器 | 株式会社アドバンテスト 他 | 2013年12月25日 |
| 特許 5378273 | コンタクトプローブ及びソケット、チューブ状プランジャの製造方法、並びにコンタクトプローブの製造方法 | 株式会社アドバンテスト 他 | 2013年12月25日 |
| 特許 5379571 | パターン検査装置及びパターン検査方法 | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月25日 |
| 特許 5379685 | 試験装置 | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月25日 |
| 特許 5379742 | 試験装置、試験方法、およびデバイスインターフェイス | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月25日 |
| 特許 5379744 | データラッチ回路およびそれを用いた試験装置 | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月25日 |
| 特許 5368006 | 走査型電子顕微鏡及び試料観察方法 | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月18日 |
| 特許 5368086 | マルチコラム電子ビーム露光装置及びマルチコラム電子ビーム露光方法 | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月18日 |
| 特許 5368290 | キャリア組立装置 | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月18日 |
| 特許 5368440 | 試験システム | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月18日 |
| 特許 5368565 | 半導体ウェハの試験方法及び半導体ウェハ試験装置 | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月18日 |
| 特許 5368578 | 固定具 | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月18日 |
| 特許 5368580 | 基板装着装置、テストヘッド、及び電子部品試験装置 | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月18日 |
| 特許 5363480 | マルチコラム電子ビーム露光装置及び磁場発生装置 | 株式会社アドバンテスト | 2013年12月11日 |
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5379600 5379844 5378273 5379571 5379685 5379742 5379744 5368006 5368086 5368290 5368440 5368565 5368578 5368580 5363480
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