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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第3738位 5件
(2022年: 0件)
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第6302位 2件
(2022年: 0件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特表 2023-517549 | 検査対象の欠陥パターンの抽出装置、抽出方法及び記憶媒体 | 2023年 4月26日 | |
特表 2023-516781 | 検査対象欠陥パターンの優先順位付け装置、順位付け方法及び記憶媒体 | 2023年 4月20日 | |
特表 2023-513270 | 半導体デバイスの欠陥検査方法、装置及び可読記憶媒体 | 2023年 3月30日 | |
特表 2023-509054 | ウェハ検査装置、データ処理方法及び記憶媒体 | 2023年 3月 6日 | |
特表 2023-508738 | 欠陥検査の装置及び方法 | 2023年 3月 3日 |
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2023-517549 2023-516781 2023-513270 2023-509054 2023-508738
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