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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第5492位 3件 (2023年:第4586位 4件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第27650位 0件 (2023年:第27627位 0件)
(ランキング更新日:2025年1月9日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特表 2024-528655 | 測定信号を検出するための方法及び測定デバイス | 2024年 7月30日 | |
特表 2024-523465 | 計測対象、及びX線蛍光デバイスの較正を検証するための方法 | 2024年 6月28日 | |
特表 2024-500838 | テラヘルツ放射線を使用して少なくとも1つの層の少なくとも1つの特性を判定するための方法及びデバイス | 2024年 1月10日 |
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2024-528655 2024-523465 2024-500838
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1月9日(木) -
1月10日(金) -
1月11日(土) -
1月11日(土) -
1月9日(木) -
1月14日(火) - 東京 港区
1月15日(水) -
1月15日(水) - 東京 千代田区
1月15日(水) -
1月15日(水) -
1月16日(木) - 石川 金沢市
1月16日(木) -
1月17日(金) - 東京 渋谷区
1月17日(金) -
1月17日(金) -
1月14日(火) - 東京 港区
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