公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
---|---|---|---|
特許 5394596 | 透過型電子顕微鏡用二軸傾斜のインサイチュ強度、電気的特性の総合試験試料ホルダー | 北京工業大学 | 2014年 1月22日 |
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3月12日(水) - 東京 港区
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