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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第308位 127件 (2017年:第436位 92件)
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第346位 81件 (2017年:第447位 59件)
(ランキング更新日:2025年2月5日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6345028 | レーザ印字装置及びその印字処理制御方法並びに設定プログラム | 2018年 6月20日 | |
特許 6345066 | インクジェット記録装置 | 2018年 6月20日 | |
特許 6340183 | 倒立型顕微鏡装置 | 2018年 6月 6日 | |
特許 6334861 | 外観検査装置、外観検査方法及び外観検査プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体 | 2018年 5月30日 | |
特許 6327829 | 顕微鏡の制御装置、顕微鏡システム、制御方法およびプログラム | 2018年 5月23日 | |
特許 6327830 | 顕微鏡撮像装置、顕微鏡撮像方法および顕微鏡撮像プログラム | 2018年 5月23日 | |
特許 6327917 | 形状測定装置、形状測定方法および形状測定プログラム | 2018年 5月23日 | |
特許 6325815 | 拡大観察装置、拡大画像観察方法、拡大画像観察プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体 | 2018年 5月16日 | |
特許 6325816 | 拡大観察装置、拡大画像観察方法、拡大画像観察プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体 | 2018年 5月16日 | |
特許 6325817 | 拡大観察装置、拡大画像観察方法、拡大画像観察プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体 | 2018年 5月16日 | |
特許 6325871 | 光学式座標測定装置 | 2018年 5月16日 | |
特許 6325877 | 光学式座標測定装置 | 2018年 5月16日 | |
特許 6325896 | 光学式座標測定装置 | 2018年 5月16日 | |
特許 6325897 | 光学式座標測定装置およびプローブ | 2018年 5月16日 | |
特許 6325934 | 画像処理センサシステム、画像処理センサの制御方法、及び画像処理センサシステムに用いる画像処理センサ | 2018年 5月16日 |
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6345028 6345066 6340183 6334861 6327829 6327830 6327917 6325815 6325816 6325817 6325871 6325877 6325896 6325897 6325934
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2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
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2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
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