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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第308位 127件 (2017年:第436位 92件)
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第346位 81件 (2017年:第447位 59件)
(ランキング更新日:2025年2月5日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6321485 | 読取機能付きレーザ印字装置及びワークに印字したキャラクタの読取方法 | 2018年 5月 9日 | |
特許 6315939 | 光電センサ | 2018年 4月25日 | |
特許 6316663 | 座標測定装置 | 2018年 4月25日 | |
特許 6308807 | 検査装置、制御方法およびプログラム | 2018年 4月11日 | |
特許 6308808 | 検査システム、検査装置、制御方法およびプログラム | 2018年 4月11日 | |
特許 6308880 | 画像検査装置 | 2018年 4月11日 | |
特許 6310314 | 携帯型光学式読取装置、該携帯型光学式読取装置を用いる光学式読取方法、及びコンピュータプログラム | 2018年 4月11日 | |
特許 6310343 | 三次元形状測定装置、測定データ処理ユニット、測定データ処理方法、及びコンピュータプログラム | 2018年 4月11日 | |
特許 6310358 | レーザ加工装置 | 2018年 4月11日 | |
特許 6305012 | 顕微鏡撮像装置、顕微鏡撮像方法および顕微鏡撮像プログラム | 2018年 4月 4日 | |
特許 6305270 | レーザ加工装置及びワーキングディスタンス測定方法 | 2018年 4月 4日 | |
特許 6302255 | カートリッジ式インクジェット記録装置 | 2018年 3月28日 | |
特許 6298270 | 光電センサ | 2018年 3月20日 | |
特許 6290651 | 画像測定器 | 2018年 3月 7日 | |
特許 6290720 | 検査装置、検査方法およびプログラム | 2018年 3月 7日 |
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6321485 6315939 6316663 6308807 6308808 6308880 6310314 6310343 6310358 6305012 6305270 6302255 6298270 6290651 6290720
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2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
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2月6日(木) - 東京 港区
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2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
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