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ＪＦＥテクノリサーチ株式会社
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第2638位 8件
（
2021年：第12881位 1件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第4630位 3件
（2021年：第5804位 2件）
（ランキング更新日：2025年3月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ＪＦＥテクノリサーチ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2022-114769 | 磁石損失測定システム及び磁石損失測定方法 | 2022年 8月 8日 | |
| 特開 2022-114960 | 指掌紋撮影装置及び指掌紋撮影方法 | 2022年 8月 8日 | |
| 特開 2022-96297 | 温度測定装置、温度測定方法及び大気計測システム | 2022年 6月29日 | |
| 特開 2022-55696 | パターン付与方法、評価方法およびパターン付き試料 | 2022年 4月 8日 | |
| 特開 2022-53488 | 水素チャージ方法及び水素脆化特性評価方法 | 2022年 4月 5日 | |
| 特開 2022-22086 | 電気化学測定装置および金属材料の電気化学測定方法 | 2022年 2月 3日 | |
| 特開 2022-15754 | 粗い内部構造を有する対象物の計測用音波送受波器 | 2022年 1月21日 | |
| 特開 2022-16308 | 地盤改良体の寸法形状の計測方法及び装置 | 2022年 1月21日 |
8 件中 1-8 件を表示
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2022-114769 2022-114960 2022-96297 2022-55696 2022-53488 2022-22086 2022-15754 2022-16308
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