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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特表 2015-537236 | SPIM顕微鏡法のための顕微鏡および方法 | 2015年12月24日 | |
特開 2015-215629 | 試料の構造を空間的に高分解能で結像するための装置および方法 | 2015年12月 3日 | |
特開 2015-207018 | ダイナミック・レンジが拡張された画像を生成するための方法、およびこのような方法を実施するための制御ユニット(34)またはコンピュータ・プログラム、および光学系 | 2015年11月19日 | |
特表 2015-532449 | 自由に調整可能な試料走査を有する共焦点顕微鏡 | 2015年11月 9日 | |
特開 2015-187745 | 物体の2次元または3次元の位置調整のための高解像度顕微鏡および方法 | 2015年10月29日 | |
特表 2015-529347 | 光学系構成および光学顕微鏡 | 2015年10月 5日 | |
特表 2015-527604 | 顕微鏡およびSPIM顕微鏡検査方法 | 2015年 9月17日 | |
特表 2015-527618 | 光学装置および光学顕微鏡 | 2015年 9月17日 | |
特表 2015-525894 | 様々な配向角度からのサンプルの画像スタックの取得を準備および実施する方法 | 2015年 9月 7日 | |
特表 2015-523602 | 顕微鏡 | 2015年 8月13日 | |
特表 2015-519604 | 光学顕微鏡および光学顕微鏡を用いた画像記録方法 | 2015年 7月 9日 | |
特開 2015-118378 | 顕微鏡およびSPIM顕微鏡検査方法 | 2015年 6月25日 | |
特表 2015-517687 | 顕微鏡および顕微鏡観察方法 | 2015年 6月22日 | |
特開 2015-111571 | 粒子光学装置、粒子光学部品、検査システム、検査方法、および、リソグラフィシステム | 2015年 6月18日 | |
特表 2015-515018 | 高分解能走査顕微鏡 | 2015年 5月21日 |
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2015-537236 2015-215629 2015-207018 2015-532449 2015-187745 2015-529347 2015-527604 2015-527618 2015-525894 2015-523602 2015-519604 2015-118378 2015-517687 2015-111571 2015-515018
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11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月26日(火) -
12月2日(月) - 滋賀 草津市
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12月4日(水) - 東京 千代田区
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12月4日(水) -
12月4日(水) - 大阪 大阪市
12月5日(木) - 東京 港区
12月5日(木) -
12月5日(木) -
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12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
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