ホーム > 特許ランキング > カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハー > 2015年 > 特許一覧
カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハー
※ ログインすれば出願人(カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハー)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2015年 出願公開件数ランキング 第932位 30件
（
2014年： 0件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第1215位 16件
（2014年： 0件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5826494 | 試料の構造を空間的に高分解能で結像するための装置および方法 | 2015年12月 2日 | |
| 特許 5823287 | 分解能の向上したルミネセンス顕微鏡 | 2015年11月25日 | |
| 特許 5756077 | 粒子光学装置及び荷電粒子ビーム操作方法 | 2015年 7月29日 | |
| 特許 5756150 | 粒子光学システム及び装置、並びに、かかるシステム及び装置用の粒子光学部品 | 2015年 7月29日 | |
| 特許 5746161 | 顕微鏡画像における蛍光の評価方法 | 2015年 7月 8日 | |
| 特許 5738765 | 構造化照明を備えた顕微鏡法のための改良された方法および装置 | 2015年 6月24日 | |
| 特許 5734191 | 試料を検査するための装置、特に顕微鏡 | 2015年 6月17日 | |
| 特許 5733919 | 高感度検出器装置 | 2015年 6月10日 | |
| 特許 5728660 | 粒子光学部品 | 2015年 6月 3日 | |
| 特許 5707408 | 顕微鏡画像を形成するための方法および顕微鏡 | 2015年 4月30日 | |
| 特許 5663717 | 荷電粒子システム | 2015年 2月 4日 | |
| 特許 5663722 | 粒子光学部品 | 2015年 2月 4日 | |
| 特許 5657675 | 顕微鏡 | 2015年 1月21日 | |
| 特許 5657676 | 顕微鏡 | 2015年 1月21日 | |
| 特許 5658038 | 顕微鏡 | 2015年 1月21日 |
16 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5826494 5823287 5756077 5756150 5746161 5738765 5734191 5733919 5728660 5707408 5663717 5663722 5657675 5657676 5658038
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
東京都練馬区豊玉北６－１１－３ 長田ビル３階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 鑑定 コンサルティング
オーブ国際特許事務所（東京都）－ソフトウェア・電気電子分野専門
東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル５階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定
〒243-0021 神奈川県厚木市岡田３０５０ 厚木アクストメインタワー３階Ｂ－１ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
