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出願人名に「株式会社ジェイテック」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5103583 | Ｘ線ナノビーム強度分布の精密測定方法及びその装置 | 株式会社ジェイテック 他 | 2012年12月19日 |
| 特許 5070370 | 超精密形状測定方法及びその装置 | 株式会社ジェイテック 他 | 2012年11月14日 |
| 特許 5055479 | 自動細胞培養装置 | 株式会社ジェイテック | 2012年10月24日 |
| 特許 4904844 | 超精密形状測定方法 | 株式会社ジェイテック 他 | 2012年 3月28日 |
4 件中 1-4 件を表示
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5103583 5070370 5055479 4904844
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