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出願人名に「株式会社ジェイテック」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5343251 | Ｘ線ナノビーム強度分布の精密測定方法及びその装置 | 株式会社ジェイテック 他 | 2013年11月13日 |
| 特許 5257960 | 回転培養ベッセル及びそれを用いた自動細胞培養装置 | 株式会社ジェイテック 他 | 2013年 8月 7日 |
| 特許 5229662 | 電鋳法による超精密部品の製造方法及び超精密光学部品 | 株式会社ジェイテック 他 | 2013年 7月 3日 |
3 件中 1-3 件を表示
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5343251 5257960 5229662
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