ホーム > 特許ランキング > マーポス、ソチエタ、ペル、アツィオーニ > 2012年 > 出願公開一覧
公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
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特表 2012-522209 | 計測及び検査装置 | マーポス、ソチエタ、ペル、アツィオーニ | 2012年 9月20日 |
特表 2012-508875 | 物体の厚さを干渉分析法によって光学的に計測するための方法、計測装置、及び、計測システム | マーポス、ソチエタ、ペル、アツィオーニ | 2012年 4月12日 |
特表 2012-508869 | 物体の厚さを干渉分析法によって光学的に計測するための装置及び方法 | マーポス、ソチエタ、ペル、アツィオーニ | 2012年 4月12日 |
特開 2012-47752 | 機械部品の寸法および/または形状の検査装置 | マーポス、ソチエタ、ペル、アツィオーニ | 2012年 3月 8日 |
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2012-522209 2012-508875 2012-508869 2012-47752
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