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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第1399位 17件
(2021年:第3208位 6件)
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第2447位 7件
(2021年:第25492位 0件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特表 2022-554302 | 製造プロセスのためのシステム、方法、および媒体 | 2022年12月28日 | |
特表 2022-554303 | 製造プロセスのためのシステム、方法、および媒体 | 2022年12月28日 | |
特表 2022-551860 | 工場のプロセス、機器、および自動化システムの動的な監視および保護 | 2022年12月14日 | |
特開 2022-166211 | ウェハおよびフォトマスクの組み合わせ検査のシステム、装置、および方法 | 2022年11月 1日 | |
特表 2022-543072 | 反射標本のマクロ検査のためのシステム、方法および装置 | 2022年10月 7日 | |
特表 2022-537811 | 製造工程のための予測工程管理 | 2022年 8月30日 | |
特開 2022-84859 | 顕微鏡撮像における口径食を低減するための装置および方法 | 2022年 6月 7日 | |
特開 2022-84860 | 積層造形における人工知能フィードバック制御のためのシステム、方法および媒体 | 2022年 6月 7日 | |
特表 2022-526033 | 積層造形における人工知能プロセス制御のためのシステム、方法および媒体 | 2022年 5月20日 | |
特開 2022-71162 | 顕微鏡自動焦点のシステム、装置、および方法 | 2022年 5月13日 | |
特開 2022-62236 | 顕微鏡検査において大面積の撮像を容易にするためのカメラと検体の整列 | 2022年 4月19日 | |
特表 2022-522436 | 組立てラインのための動的訓練 | 2022年 4月19日 | |
特表 2022-522159 | 組立てラインのための組立てエラー修正 | 2022年 4月14日 | |
特表 2022-520542 | 蛍光顕微鏡検査システム、装置および方法 | 2022年 3月31日 | |
特開 2022-50565 | 超解像イメージングの精度に関するフィードバックを行い、その精度を改善するためのシステム、デバイス、および方法 | 2022年 3月30日 |
17 件中 1-15 件を表示
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2022-554302 2022-554303 2022-551860 2022-166211 2022-543072 2022-537811 2022-84859 2022-84860 2022-526033 2022-71162 2022-62236 2022-522436 2022-522159 2022-520542 2022-50565
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2月20日(木) -
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
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(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
2月25日(火) -
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2月27日(木) - 東京 港区
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