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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第1212位 24件
(2016年:第1334位 19件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第1777位 10件
(2016年:第1218位 17件)
(ランキング更新日:2025年2月7日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2017-50293 | イオントラップを使用する質量範囲にわたる順次ウィンドウ化取得のためのシステムおよび方法 | 2017年 3月 9日 | |
特開 2017-44708 | 滞留時間の決定または確認のための窓処理質量分析データの使用 | 2017年 3月 2日 | |
特表 2017-504936 | レンズパルシング装置および方法 | 2017年 2月 9日 | |
特表 2017-504024 | 液体をイオン源に送達するためのシステムおよび方法 | 2017年 2月 2日 | |
特表 2017-503171 | 微分移動度分光計のための噴射注入器入口 | 2017年 1月26日 | |
特表 2017-503172 | 高効率イオンガイドを用いる真空DMS | 2017年 1月26日 | |
特表 2017-501534 | 向上した選別性のためのMS3を通したフロー | 2017年 1月12日 | |
特表 2017-500717 | 高速極性スイッチ飛行時間型質量分析計 | 2017年 1月 5日 | |
特表 2017-500720 | 改善された感度のためのイオンの多重化 | 2017年 1月 5日 |
24 件中 16-24 件を表示
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2017-50293 2017-44708 2017-504936 2017-504024 2017-503171 2017-503172 2017-501534 2017-500717 2017-500720
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2月10日(月) -
2月12日(水) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月10日(月) -
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