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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第1744位 13件
(2022年:第2387位 9件)
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第2423位 7件
(2022年:第4630位 3件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7394828 | マイクロLED発光検査装置及びその装置に用いる光学フィルタの検査装置及び製造プロセスに組み込まれたその装置を用いるマイクロLED発光検査方法 | 2023年12月 8日 | |
特許 7362272 | 光学処理装置において基板からデブリを除去するためのシステム | 2023年10月17日 | |
特許 7303196 | 欠陥検出システム | 2023年 7月 4日 | |
特許 7300397 | 超高解像度パネルの欠陥検出方法 | 2023年 6月29日 | |
特許 7274312 | 自動光学検査のための光学系 | 2023年 5月16日 | |
特許 7223868 | 高密度導体を有するPCB製品を調製するための方法及び装置 | 2023年 2月16日 | |
特許 7209058 | 有機発光ダイオードの封止方法 | 2023年 1月19日 |
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7394828 7362272 7303196 7300397 7274312 7223868 7209058
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10月21日(火) - 東京 港区
10月21日(火) -
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10月21日(火) -
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10月22日(水) - 栃木 宇都宮市
10月23日(木) - 東京 港区
10月23日(木) -
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10月24日(金) -
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