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エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第391位 91件
（
2017年：第471位 83件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第373位 74件
（2017年：第376位 72件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6370151 | 半導体集積回路装置及びその出力電圧調整方法 | 2018年 8月 8日 | |
| 特許 6370191 | バッテリ状態監視回路及びバッテリ装置 | 2018年 8月 8日 | |
| 特許 6370567 | 現像装置 | 2018年 8月 8日 | |
| 特許 6370620 | 磁気センサ | 2018年 8月 8日 | |
| 特許 6370649 | データ読出し回路 | 2018年 8月 8日 | |
| 特許 6371543 | 過熱保護回路及びボルテージレギュレータ | 2018年 8月 8日 | |
| 特許 6352042 | 遅延回路、発振回路及び半導体装置 | 2018年 7月 4日 | |
| 特許 6353689 | 過熱検出回路及び半導体装置 | 2018年 7月 4日 | |
| 特許 6342240 | ボルテージレギュレータ | 2018年 6月13日 | |
| 特許 6338406 | 半導体装置の製造方法 | 2018年 6月 6日 | |
| 特許 6339833 | センサ装置 | 2018年 6月 6日 | |
| 特許 6340204 | 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法 | 2018年 6月 6日 | |
| 特許 6340223 | 薄膜中の不純物濃度の測定方法及びその測定装置 | 2018年 6月 6日 | |
| 特許 6325379 | スイッチ回路および半導体集積回路装置 | 2018年 5月16日 | |
| 特許 6321411 | 電圧検出回路 | 2018年 5月 9日 |
74 件中 31-45 件を表示
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6370151 6370191 6370567 6370620 6370649 6371543 6352042 6353689 6342240 6338406 6339833 6340204 6340223 6325379 6321411
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