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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第2480位 8件
(2014年:第2742位 7件)
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第3293位 4件
(2014年:第1774位 13件)
(ランキング更新日:2025年5月2日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2015-163857 | 中空柱状構造集合体の検査装置および検査方法 | 2015年 9月10日 | |
特開 2015-132577 | 画像ピックアップ構造、該構造を適用した画像ピックアップヘッドおよび3次元形状計測装置 | 2015年 7月23日 | |
特開 2015-105904 | 表面検査方法及び表面検査装置 | 2015年 6月 8日 | |
特開 2015-99064 | 透過式内部検査装置の被検査物搬送方法 | 2015年 5月28日 | |
特開 2015-96248 | 小型成形品の搬送装置および該装置に用いられる簀子状部材 | 2015年 5月21日 | |
特開 2015-87620 | 側壁反射低減構造、該構造を有する中空体および該中空体を用いた光伝送環境構築装置 | 2015年 5月 7日 | |
特開 2015-70348 | 色むら補正方法及び色むら補正処理部を有した撮像装置 | 2015年 4月13日 | |
特開 2015-17837 | 3次元形状計測装置 | 2015年 1月29日 |
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2015-163857 2015-132577 2015-105904 2015-99064 2015-96248 2015-87620 2015-70348 2015-17837
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