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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第3535位 5件
(2014年:第2283位 9件)
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第2775位 5件
(2014年:第1674位 14件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2015-232575 | 多重波長を用いた3次元形状の測定装置及び測定方法 | 2015年12月24日 | |
特開 2015-194500 | 3次元形状の測定方法及び測定装置 | 2015年11月 5日 | |
特表 2015-516580 | 3次元形状測定装置の高さ測定方法 | 2015年 6月11日 | |
特表 2015-515403 | スクリーンプリンタ装備の補正方法及びそれを用いた基板検査システム | 2015年 5月28日 | |
特表 2015-503754 | 非対称偏光を用いた干渉計及びそれを用いた光学装置 | 2015年 2月 2日 |
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2015-232575 2015-194500 2015-516580 2015-515403 2015-503754
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -