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コー・ヤング・テクノロジー・インコーポレーテッド
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第2461位 9件
（
2012年：第1902位 12件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第3906位 4件
（
2012年：第25637位 0件）
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コー・ヤング・テクノロジー・インコーポレーテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2013-257340 | ３次元形状測定装置及び方法 | 2013年12月26日 | |
| 特表 2013-545972 | 基板検査方法 | 2013年12月26日 | |
| 特開 2013-236063 | ＰＣＢ検査装置の作業データ生成及び検査方法 | 2013年11月21日 | |
| 特開 2013-231713 | 接合部検査装置 | 2013年11月14日 | |
| 特開 2013-174624 | 基板検査装置および基板検査方法 | 2013年 9月 5日 | |
| 特開 2013-108992 | ３次元形状測定装置 | 2013年 6月 6日 | |
| 特表 2013-517474 | 基板検査装置 | 2013年 5月16日 | |
| 特開 2013-69340 | 基板検査装置及び検査方法 | 2013年 4月18日 | |
| 特開 2013-11622 | プリント回路基板上における測定対象物の測定方法 | 2013年 1月17日 |
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2013-257340 2013-545972 2013-236063 2013-231713 2013-174624 2013-108992 2013-517474 2013-69340 2013-11622
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