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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第1902位 12件
(
2011年:第3082位 6件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第25637位 0件
(
2011年:第9278位 1件)
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| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2012-255792 | 3次元形状測定装置 | 2012年12月27日 | |
| 特開 2012-225944 | 3次元形状測定方法および基板検査方法 | 2012年11月15日 | |
| 特開 2012-198229 | 検査方法 | 2012年10月18日 | |
| 特開 2012-112955 | 基板検査方法 | 2012年 6月14日 | 共同出願 |
| 特開 2012-112961 | 検査方法 | 2012年 6月14日 | 共同出願 |
| 特開 2012-112951 | 検査方法 | 2012年 6月14日 | |
| 特開 2012-112952 | 表面形状測定方法及び測定装置 | 2012年 6月14日 | |
| 特開 2012-112954 | 基板検査方法 | 2012年 6月14日 | |
| 特開 2012-108130 | 基板検査方法 | 2012年 6月 7日 | |
| 特開 2012-108131 | 検査方法 | 2012年 6月 7日 | |
| 特開 2012-108134 | ブリッジ接続不良検出方法 | 2012年 6月 7日 | |
| 特開 2012-103256 | 検査装置 | 2012年 5月31日 |
12 件中 1-12 件を表示
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2012-255792 2012-225944 2012-198229 2012-112955 2012-112961 2012-112951 2012-112952 2012-112954 2012-108130 2012-108131 2012-108134 2012-103256
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