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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第2283位 10件 (2016年:第2477位 8件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第1911位 9件 (2016年:第2650位 6件)
(ランキング更新日:2024年9月20日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6247261 | イオン捕捉型質量分析計 | 2017年12月13日 | |
特許 6244012 | 高スループットを有する多重反射質量分析計 | 2017年12月 6日 | |
特許 6223397 | 質量スペクトル分析の方法及び質量分析計 | 2017年11月 1日 | |
特許 6204367 | 静電イオンミラー | 2017年 9月27日 | |
特許 6177863 | 静電イオンミラー | 2017年 8月 9日 | |
特許 6130790 | イオン注入の改善された静電トラップ質量分析計 | 2017年 5月17日 | |
特許 6126707 | タンデム質量分析のための方法及びシステム | 2017年 5月10日 | |
特許 6088645 | 不均一サンプリングを有するタンデム飛行時間型質量分析法 | 2017年 3月 1日 | |
特許 6077568 | クロマトグラフィーシステムでのデータを処理するためのシステム及び方法 | 2017年 2月 8日 |
9 件中 1-9 件を表示
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6247261 6244012 6223397 6204367 6177863 6130790 6126707 6088645 6077568
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最新の制度改正を反映 海外の特許制度と実務上の留意点(米国・欧州(EPC)・中国)~米国ならびに EPC (欧州特許条約)・中国の各制度の下でのグローバル特許取得の基本的な知識と留意点を解説します~
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9月25日(水) - 東京 千代田区
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