日本分光株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第5661位 3件
（
2012年：第2494位 8件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第1870位 12件
（
2012年：第2117位 10件）
（ランキング更新日：2025年10月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本分光株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5373497 | 恒温槽の制御機能を含んだ測定装置 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5363050 | ベースライン設定方法 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5363199 | 顕微全反射測定装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5341855 | 微小容量圧力計 | 2013年11月13日 | |
| 特許 5289989 | 位相差測定装置 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5269833 | 溶液試料の保持方法、試料セル、および円二色性の測定装置 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5270439 | クロマトグラフィー・データ処理装置およびプログラム | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5220345 | 回折格子設計プログラム | 2013年 6月26日 | |
| 特許 5203582 | 光学素子 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5154494 | 超臨界流体クロマトグラフィー装置及びその密度調整方法 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5133603 | マッピング測定装置 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5118768 | 近接場分光装置 | 2013年 1月16日 |
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5373497 5363050 5363199 5341855 5289989 5269833 5270439 5220345 5203582 5154494 5133603 5118768
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