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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第5661位 3件
(2012年:第7092位 2件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第4717位 3件
(2012年:第4646位 3件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5349892 | 半導体接合ウエハの製造方法 | 2013年11月20日 | |
特許 5264204 | 半導体ウエハの不純物拡散方法 | 2013年 8月14日 | |
特許 5144401 | ウエハ用検査装置 | 2013年 2月13日 |
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5349892 5264204 5144401
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2月22日(土) - 東京 板橋区
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2月25日(火) -
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2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
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2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
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2月25日(火) -
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