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ヴェリティー インストルメンツ，インコーポレイテッド
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第5028位 3件
（
2023年：第5948位 3件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第9437位 1件
（2023年：第27627位 0件）
（ランキング更新日：2024年11月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ヴェリティー インストルメンツ，インコーポレイテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2024-12193 | 半導体プロセスのための光学機器の障害検出及び動作即応性のためのシステム及び方法 | 2024年 1月25日 | |
| 特開 2024-12194 | 半導体プロセスのモニタリングのための非常に高い分解能の分光計 | 2024年 1月25日 | |
| 特開 2024-12196 | 半導体処理システムのための改良された制御 | 2024年 1月25日 |
3 件中 1-3 件を表示
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2024-12193 2024-12194 2024-12196
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