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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第1161位 22件
(2017年:第1555位 17件)
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第1264位 15件
(2017年:第1518位 12件)
(ランキング更新日:2025年3月24日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 6434422 | 周期的偏光ナノ構造によって表されるデータを読み取る方法 | 2018年12月 5日 | |
特許 6420317 | 工作物を検査するための方法および装置 | 2018年11月 7日 | |
特許 6374318 | ワークピースを検査するための方法および装置 | 2018年 8月15日 | |
特許 6371279 | 金属物品の製造 | 2018年 8月 8日 | |
特許 6348577 | 座標位置決め機械を制御する方法 | 2018年 6月27日 | |
特許 6345171 | 工作機械における測定方法および対応する工作機械装置 | 2018年 6月20日 | |
特許 6346167 | 工作機械におけるアナログ測定走査方法および対応する工作機械装置 | 2018年 6月20日 | |
特許 6336753 | 光デバイスを形成する方法 | 2018年 6月 6日 | |
特許 6339505 | 座標位置決め機械をチェックするためのゲージ人工物および方法 | 2018年 6月 6日 | |
特許 6334524 | 神経外科用の器具および方法 | 2018年 5月30日 | |
特許 6321791 | 接触プローブの較正 | 2018年 5月 9日 | |
特許 6294333 | 分光装置および分光法 | 2018年 3月14日 | |
特許 6280102 | 物品を製造する方法 | 2018年 2月14日 | |
特許 6280910 | 分光システムの性能を測定するための方法 | 2018年 2月14日 | |
特許 6262701 | レーザ走査システムおよび使用方法 | 2018年 1月17日 |
15 件中 1-15 件を表示
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6434422 6420317 6374318 6371279 6348577 6345171 6346167 6336753 6339505 6334524 6321791 6294333 6280102 6280910 6262701
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3月24日(月) -
3月25日(火) - 東京 品川区
3月25日(火) -
3月26日(水) - 東京 港区
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月24日(月) -
4月1日(火) - 山口 山口市
4月1日(火) -
4月4日(金) -
4月1日(火) - 山口 山口市
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