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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第2735位 7件
(
2011年:第12004位 1件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第3300位 5件
(
2011年:第2601位 7件)
(ランキング更新日:2025年11月12日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5073679 | パターンのパラメータの変化を評価する方法及びシステム | 2012年11月14日 | |
| 特許 5032612 | マスクに関連したエラー源を評価するシステム及び方法 | 2012年 9月26日 | |
| 特許 4954155 | 高スループットのウェーハ面内変動マッピング | 2012年 6月13日 | |
| 特許 4928506 | 急速に焦点距離を変更する為のシステム及び方法 | 2012年 5月 9日 | |
| 特許 4927549 | コンタクト開口計測方法 | 2012年 5月 9日 |
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5073679 5032612 4954155 4928506 4927549
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11月14日(金) -
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11月18日(火) -
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11月19日(水) -
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