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アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第2496位 8件
（
2013年：第1403位 20件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第2733位 7件
（
2013年：第3352位 5件）
（ランキング更新日：2025年11月12日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5638396 | 微細要素の物質分析のためのシステムおよび方法 | 2014年12月10日 | |
| 特許 5543984 | 類似構造要素を分類するＣＤ計測システム及び方法 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5523788 | 移動レンズマルチビームスキャナを備えたウェハ欠陥検出システム | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5523787 | 移動レンズマルチビームスキャナを備えたウェハ欠陥検出システム | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5496969 | 最適化された純度による欠陥分類 | 2014年 5月21日 | |
| 特許 5465864 | ウェーハの電圧コントラストを強める装置及び方法 | 2014年 4月 9日 | |
| 特許 5431440 | 帯電粒子ビームの角状変位を測定および縮小するための方法 | 2014年 3月 5日 | 共同出願 |
7 件中 1-7 件を表示
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5638396 5543984 5523788 5523787 5496969 5465864 5431440
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