ホーム > 特許ランキング > OKIセミコンダクタ株式会社 > 2011年 > 出願公開一覧
※ ログインすれば出願人(OKIセミコンダクタ株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第273位 150件
(2010年:第213位 239件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第137位 269件
(2010年:第98位 302件)
(ランキング更新日:2025年7月11日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-211078 | 半導体装置及びその製造方法 | 2011年10月20日 | |
特開 2011-211089 | トランジスタ、半導体装置及びトランジスタの製造方法 | 2011年10月20日 | |
特開 2011-211635 | RF受信装置 | 2011年10月20日 | |
特開 2011-209638 | フォトマスク、及び半導体装置の製造方法 | 2011年10月20日 | |
特開 2011-204996 | ウエハ保持装置及び方法 | 2011年10月13日 | |
特開 2011-203210 | 検査用ソケット、半導体検査装置及び半導体検査方法 | 2011年10月13日 | |
特開 2011-205515 | 電圧出力装置 | 2011年10月13日 | |
特開 2011-203449 | フォトマスク製造方法、フォトマスク、フォトマスク欠陥検査装置判定方法、及びフォトマスク欠陥検査装置判定装置 | 2011年10月13日 | |
特開 2011-203001 | プローブカード検査装置、検査方法及び検査システム | 2011年10月13日 | |
特開 2011-204401 | 検査用ソケット及び半導体検査装置 | 2011年10月13日 | |
特開 2011-198384 | メモリ制御方法、及びそれを用いた演算装置 | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-199204 | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 | 2011年10月 6日 | |
特開 2011-192957 | 保護回路及び半導体装置 | 2011年 9月29日 | |
特開 2011-192972 | 基板端子間電圧検知回路 | 2011年 9月29日 | |
特開 2011-191198 | 半導体装置の製造方法 | 2011年 9月29日 |
150 件中 16-30 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2011-211078 2011-211089 2011-211635 2011-209638 2011-204996 2011-203210 2011-205515 2011-203449 2011-203001 2011-204401 2011-198384 2011-199204 2011-192957 2011-192972 2011-191198
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。OKIセミコンダクタ株式会社の知財の動向チェックに便利です。
7月14日(月) -
7月14日(月) -
7月15日(火) - 東京 品川区
7月16日(水) -
7月17日(木) -
7月17日(木) -
7月18日(金) - 東京 千代田区
7月18日(金) -
7月14日(月) -
7月23日(水) -
7月23日(水) -
7月23日(水) -
7月23日(水) -
7月24日(木) -
7月24日(木) -
7月24日(木) -
7月25日(金) -
7月25日(金) -
7月25日(金) - 大阪 大阪市
7月25日(金) - 東京 立川市
【特許のはなし・生成系AIのリスクのはなし】~特許の使い方・使える特許の作り方と、生成系AIを業務で使う場合のリスクと対応策について~
7月25日(金) -
7月25日(金) -
埼玉県久喜市久喜東6-2-46 パレ・ドール久喜2-203 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
バーチャルオフィス化(個人宅をワークスペースにしております)に伴い、お客様、お取引先様には個別にご案内させていただいております。 特許・実用新案 商標 外国特許 外国商標 コンサルティング
〒445-0802 愛知県西尾市米津町蓮台6-10 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング