ホーム > 特許ランキング > 浜松ホトニクス株式会社 > 2013年 > 特許一覧
浜松ホトニクス株式会社
※ ログインすれば出願人(浜松ホトニクス株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2013年 出願公開件数ランキング 第225位 210件
（
2012年：第237位 185件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第151位 273件
（2012年：第163位 233件）
（ランキング更新日：2025年2月18日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
浜松ホトニクス株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5171447 | 生体測定プローブ保持装置及びそれを用いた生体測定装置 | 2013年 3月27日 | |
| 特許 5171569 | ファイバオプティックプレート及びその製造方法 | 2013年 3月27日 | |
| 特許 5171158 | 固体撮像装置及び距離画像測定装置 | 2013年 3月27日 | |
| 特許 5171157 | 測距装置 | 2013年 3月27日 | |
| 特許 5171543 | ファイバ光学装置及びその駆動方法 | 2013年 3月27日 | |
| 特許 5167101 | シンチレータ、放射線検出器、およびシンチレータの製造方法 | 2013年 3月21日 | |
| 特許 5165264 | 窒化物半導体基板 | 2013年 3月21日 | |
| 特許 5167274 | 位相変調装置及び位相変調方法 | 2013年 3月21日 | |
| 特許 5165226 | 半導体レーザ装置 | 2013年 3月21日 | |
| 特許 5161528 | パクリタキセル微粒子、パクリタキセル微粒子分散液、および、これらの製造方法 | 2013年 3月13日 | |
| 特許 5160878 | 試料同定装置および試料同定方法 | 2013年 3月13日 | |
| 特許 5162049 | 分光モジュール及び分光モジュールの製造方法 | 2013年 3月13日 | |
| 特許 5161755 | 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム | 2013年 3月13日 | |
| 特許 5156291 | フローセル中を流れるサンプルの光学的特性計測装置 | 2013年 3月 6日 | |
| 特許 5155602 | 半導体不良解析装置、不良解析方法、及び不良解析プログラム | 2013年 3月 6日 |
273 件中 211-225 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5171447 5171569 5171158 5171157 5171543 5167101 5165264 5167274 5165226 5161528 5160878 5162049 5161755 5156291 5155602
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。浜松ホトニクス株式会社の知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
2月18日(火) -
2月19日(水) - 東京 港区
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月18日(火) -
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
東京都港区新橋6-20-4 新橋パインビル5階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都新宿区新宿５－１０－１ 第２スカイビル６階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都新宿区西新宿8-1-9 シンコービル 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
