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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第22位 1823件
(2010年:第46位 839件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第26位 1109件
(2010年:第49位 501件)
(ランキング更新日:2021年2月25日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 4847231 | 電界に起因する剥離物による汚染を防止する装置 | 2011年12月28日 | |
特許 4847768 | 撮像装置及びその露光制御方法 | 2011年12月28日 | |
特許 4845202 | 電気特性測定回路、遅延ライブラリ作成装置、遅延ライブラリの作成方法、及び半導体集積回路の設計方法 | 2011年12月28日 | |
特許 4846272 | 半導体集積回路装置 | 2011年12月28日 | |
特許 4846128 | 半導体装置およびそのテスト方法 | 2011年12月28日 | |
特許 4846708 | メモリ集積回路装置 | 2011年12月28日 | |
特許 4847907 | 半導体検査装置 | 2011年12月28日 | |
特許 4846819 | データドライバ及び表示装置 | 2011年12月28日 | |
特許 4845152 | マスタ機器及びデータ処理システム | 2011年12月28日 | |
特許 4846244 | 半導体装置 | 2011年12月28日 | |
特許 4846144 | 同期型半導体記憶装置 | 2011年12月28日 | |
特許 4847702 | 表示装置の駆動回路 | 2011年12月28日 | |
特許 4846702 | 半導体記憶装置 | 2011年12月28日 | |
特許 4847734 | 半導体集積回路装置、それのデバッグシステム及びデバッグ方法。 | 2011年12月28日 | |
特許 4845154 | 液晶表示駆動装置および表示システム | 2011年12月28日 |
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4847231 4847768 4845202 4846272 4846128 4846708 4847907 4846819 4845152 4846244 4846144 4847702 4846702 4847734 4845154
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