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ルネサスエレクトロニクス株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第22位 1823件
（
2010年：第46位 839件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第26位 1109件
（2010年：第49位 501件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ルネサスエレクトロニクス株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4813823 | テストシステム及びテスト方法 | 2011年11月 9日 | |
| 特許 4813802 | 液晶駆動装置、液晶表示装置及び液晶駆動方法 | 2011年11月 9日 | |
| 特許 4812338 | 半導体装置 | 2011年11月 9日 | |
| 特許 4814044 | パターン設計方法 | 2011年11月 9日 | |
| 特許 4808995 | 半導体回路装置 | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4807783 | 電荷検出素子 | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4809099 | 受信回路及び受信方法 | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4805547 | 位相同期回路のジッタ検出回路 | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4806673 | 復号装置及び復号方法 | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4804497 | 半導体装置 | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4805600 | 半導体装置 | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4805604 | 故障診断方法、故障診断装置、及び故障診断プログラム | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4808051 | 半導体集積回路装置とそのテスト方法 | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4806535 | スペアセルセットの配置方法 | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4806537 | テスト回路及びマスク制御回路 | 2011年11月 2日 |
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4813823 4813802 4812338 4814044 4808995 4807783 4809099 4805547 4806673 4804497 4805600 4805604 4808051 4806535 4806537
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