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ルネサスエレクトロニクス株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第22位 1823件
（
2010年：第46位 839件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第26位 1109件
（2010年：第49位 501件）
（ランキング更新日：2025年2月3日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ルネサスエレクトロニクス株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4772135 | 半導体素子、および、その製造方法 | 2011年 9月14日 | |
| 特許 4771664 | 固体撮像装置及びその駆動方法 | 2011年 9月14日 | |
| 特許 4773294 | 適応等化装置及び受信装置 | 2011年 9月14日 | |
| 特許 4773377 | 通信システム、通信装置及びフロー制御方法 | 2011年 9月14日 | |
| 特許 4771422 | 受信装置 | 2011年 9月14日 | |
| 特許 4772650 | イメージセンサ | 2011年 9月14日 | 共同出願 |
| 特許 4769380 | クリーニング用シートおよびそれを用いた半導体装置の製造方法 | 2011年 9月 7日 | 共同出願 |
| 特許 4769839 | 半導体装置の製造方法 | 2011年 9月 7日 | 共同出願 |
| 特許 4768994 | 配線基板および半導体装置 | 2011年 9月 7日 | 共同出願 |
| 特許 4764608 | 半導体装置 | 2011年 9月 7日 | 共同出願 |
| 特許 4769429 | 半導体装置の製造方法 | 2011年 9月 7日 | |
| 特許 4764841 | 半導体装置の製造方法 | 2011年 9月 7日 | |
| 特許 4769474 | 半導体集積回路装置の製造方法 | 2011年 9月 7日 | |
| 特許 4769320 | 半導体装置の不良解析方法及び装置並びにそれらのプログラム | 2011年 9月 7日 | |
| 特許 4769057 | 表面電位計の校正用固定治具および校正方法 | 2011年 9月 7日 |
1109 件中 376-390 件を表示
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4772135 4771664 4773294 4773377 4771422 4772650 4769380 4769839 4768994 4764608 4769429 4764841 4769474 4769320 4769057
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