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ルネサスエレクトロニクス株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第22位 1823件
（
2010年：第46位 839件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第26位 1109件
（2010年：第49位 501件）
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ルネサスエレクトロニクス株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4772135 | 半導体素子、および、その製造方法 | 2011年 9月14日 | |
| 特許 4771664 | 固体撮像装置及びその駆動方法 | 2011年 9月14日 | |
| 特許 4773294 | 適応等化装置及び受信装置 | 2011年 9月14日 | |
| 特許 4773377 | 通信システム、通信装置及びフロー制御方法 | 2011年 9月14日 | |
| 特許 4771422 | 受信装置 | 2011年 9月14日 | |
| 特許 4772650 | イメージセンサ | 2011年 9月14日 | 共同出願 |
| 特許 4769380 | クリーニング用シートおよびそれを用いた半導体装置の製造方法 | 2011年 9月 7日 | 共同出願 |
| 特許 4769839 | 半導体装置の製造方法 | 2011年 9月 7日 | 共同出願 |
| 特許 4768994 | 配線基板および半導体装置 | 2011年 9月 7日 | 共同出願 |
| 特許 4764608 | 半導体装置 | 2011年 9月 7日 | 共同出願 |
| 特許 4769429 | 半導体装置の製造方法 | 2011年 9月 7日 | |
| 特許 4764841 | 半導体装置の製造方法 | 2011年 9月 7日 | |
| 特許 4769474 | 半導体集積回路装置の製造方法 | 2011年 9月 7日 | |
| 特許 4769320 | 半導体装置の不良解析方法及び装置並びにそれらのプログラム | 2011年 9月 7日 | |
| 特許 4769057 | 表面電位計の校正用固定治具および校正方法 | 2011年 9月 7日 |
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4772135 4771664 4773294 4773377 4771422 4772650 4769380 4769839 4768994 4764608 4769429 4764841 4769474 4769320 4769057
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＜エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け＞ 基礎から学ぶ／自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
2月14日(金) - 東京 千代田区
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（オンライン参加可）体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする？～海外で商標権がバッティング？オープンファクトリーの知財リスク？～
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月17日(月) - 大阪 大阪市
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