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ルネサスエレクトロニクス株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第22位 1823件
（
2010年：第46位 839件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第26位 1109件
（2010年：第49位 501件）
（ランキング更新日：2025年2月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ルネサスエレクトロニクス株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4702878 | 半導体集積回路装置 | 2011年 6月15日 | |
| 特許 4700755 | クロック生成回路 | 2011年 6月15日 | |
| 特許 4704101 | 半導体装置の製造方法 | 2011年 6月15日 | |
| 特許 4704015 | 半導体装置及び半導体記憶装置の製造方法 | 2011年 6月15日 | |
| 特許 4703127 | 半導体ウェーハ、半導体チップおよびその製造方法 | 2011年 6月15日 | |
| 特許 4701264 | 半導体装置、および半導体装置の製造方法 | 2011年 6月15日 | |
| 特許 4699851 | 昇圧回路 | 2011年 6月15日 | |
| 特許 4699776 | プルダウン検出装置及びプルダウン検出方法 | 2011年 6月15日 | |
| 特許 4699168 | 電子顕微鏡用試料の作製方法 | 2011年 6月 8日 | |
| 特許 4695987 | 半導体検査装置 | 2011年 6月 8日 | |
| 特許 4695373 | メモリテスト回路及びメモリテスト方法 | 2011年 6月 8日 | |
| 特許 4695935 | 異常検出システムおよび異常検出方法 | 2011年 6月 8日 | |
| 特許 4697805 | データ処理装置 | 2011年 6月 8日 | |
| 特許 4698716 | 薄膜磁性体記憶装置 | 2011年 6月 8日 | |
| 特許 4698715 | 薄膜磁性体記憶装置 | 2011年 6月 8日 |
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4702878 4700755 4704101 4704015 4703127 4701264 4699851 4699776 4699168 4695987 4695373 4695935 4697805 4698716 4698715
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