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ルネサスエレクトロニクス株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第32位 1219件
（
2012年：第29位 1347件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第35位 952件
（2012年：第28位 1067件）
（ランキング更新日：2025年2月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ルネサスエレクトロニクス株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5150932 | 半導体記憶装置 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5154789 | 半導体装置並びに半導体装置の製造方法 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5154744 | 半導体装置およびその製造方法 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5154152 | 昇圧電源回路 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5153164 | 半導体装置の製造方法 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5152903 | 半導体装置の製造方法 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5154901 | 信号生成回路 | 2013年 2月27日 | |
| 特許 5155012 | ＡＤ変換器及びデータ処理装置 | 2013年 2月27日 | 共同出願 |
| 特許 5150531 | 磁気抵抗素子、磁気ランダムアクセスメモリ、及びそれらの製造方法 | 2013年 2月20日 | 共同出願 |
| 特許 5149719 | フォトマスクの製造方法 | 2013年 2月20日 | 共同出願 |
| 特許 5148537 | 電源電圧検出回路 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5147284 | 半導体装置の製造方法 | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5149681 | ＲＦＩＤ用インレット | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5148434 | ホールドタイムエラーの収束方法、収束装置、及び収束プログラム | 2013年 2月20日 | |
| 特許 5148236 | 半導体集積回路及び半導体集積回路の制御方法 | 2013年 2月20日 |
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5150932 5154789 5154744 5154152 5153164 5152903 5154901 5155012 5150531 5149719 5148537 5147284 5149681 5148434 5148236
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