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ルネサスエレクトロニクス株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第32位 1219件
（
2012年：第29位 1347件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第35位 952件
（2012年：第28位 1067件）
（ランキング更新日：2025年2月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ルネサスエレクトロニクス株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5122389 | 半導体装置 | 2013年 1月16日 | |
| 特許 5122228 | 不揮発性半導体記憶装置の製造方法 | 2013年 1月16日 | |
| 特許 5121102 | 半導体装置の製造方法 | 2013年 1月16日 | |
| 特許 5120868 | 半導体装置 | 2013年 1月16日 | |
| 特許 5119221 | 半導体集積回路装置の製造方法 | 2013年 1月16日 | |
| 特許 5119092 | 半導体装置の製造方法 | 2013年 1月16日 | |
| 特許 5118887 | 半導体装置およびその製造方法 | 2013年 1月16日 | |
| 特許 5117883 | 半導体装置の製造方法 | 2013年 1月16日 | |
| 特許 5117818 | 表面加工処理装置又は成膜処理装置の異物検査・解析のための管理装置及び方法 | 2013年 1月16日 | |
| 特許 5117791 | 半導体装置 | 2013年 1月16日 | |
| 特許 5117755 | 半導体装置 | 2013年 1月16日 | |
| 特許 5117740 | 半導体装置の製造方法 | 2013年 1月16日 | |
| 特許 5117698 | 半導体装置 | 2013年 1月16日 | |
| 特許 5116381 | テスト回路 | 2013年 1月 9日 | |
| 特許 5116307 | 集積回路装置異常検出装置、方法およびプログラム | 2013年 1月 9日 |
952 件中 916-930 件を表示
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5122389 5122228 5121102 5120868 5119221 5119092 5118887 5117883 5117818 5117791 5117755 5117740 5117698 5116381 5116307
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