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ルネサスエレクトロニクス株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第22位 1823件
（
2010年：第46位 839件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第26位 1109件
（2010年：第49位 501件）
（ランキング更新日：2025年2月5日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ルネサスエレクトロニクス株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4627862 | めっき装置 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4629493 | 半導体装置の検査方法 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4627118 | スキャンテスト用回路 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4630462 | 集積回路及びそれを用いた情報処理装置 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4628709 | 半導体集積回路のレイアウト設計方法 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4627456 | 通信システム、サイクルマスタノード及び通信方法 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4627078 | デジタルアナログ変換回路とデータドライバ及び表示装置 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4628375 | 昇圧電位発生ユニット | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4628319 | 同期型半導体記憶装置 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4628114 | 不揮発性半導体記憶装置 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4627827 | 半導体集積回路装置 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4627411 | メモリ装置及びメモリのエラー訂正方法 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4630164 | 半導体装置とその設計方法 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4629982 | 不揮発性記憶素子およびその製造方法 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4628687 | 半導体装置 | 2011年 2月 9日 |
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4627862 4629493 4627118 4630462 4628709 4627456 4627078 4628375 4628319 4628114 4627827 4627411 4630164 4629982 4628687
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