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株式会社半導体エネルギー研究所
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第34位 1161件
（
2012年：第31位 1203件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第34位 975件
（
2012年：第40位 784件）
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株式会社半導体エネルギー研究所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5271721 | トリアリールピラジン誘導体の製造方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268208 | 化合物 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268207 | 化合物 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268202 | 発光素子 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268187 | カルバゾール誘導体 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5271657 | 表示装置及び表示装置の作製方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5269266 | 半導体装置の作製方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268305 | 半導体装置の作製方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5271508 | ホログラム記録媒体及びそのホログラム記録媒体の作製方法、並びに当該ホログラム記録媒体を用いた露光方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268600 | 半導体装置及びメモリのデータ書き込み方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268395 | 半導体装置の作製方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5271993 | 表示装置の製造方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268304 | 半導体装置の作製方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268192 | ＯＴＰメモリの検査方法、ＯＴＰメモリの作製方法、および半導体装置の作製方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5271505 | 半導体装置 | 2013年 8月21日 |
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5271721 5268208 5268207 5268202 5268187 5271657 5269266 5268305 5271508 5268600 5268395 5271993 5268304 5268192 5271505
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