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株式会社半導体エネルギー研究所
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第31位 1203件
（
2011年：第41位 890件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第40位 784件
（2011年：第45位 658件）
（ランキング更新日：2025年4月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社半導体エネルギー研究所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5106136 | 半導体装置の作製方法 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5106564 | 半導体表示装置の作製方法 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5106573 | 薄膜トランジスタの製造方法及び表示装置の製造方法 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5110821 | 半導体装置の作製方法 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5110772 | 半導体薄膜層を有する基板の製造方法 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5106647 | 電子機器及び電子システム | 2012年12月26日 | |
| 特許 5105948 | 表示装置の作製方法 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5107400 | 半導体装置の作製方法 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5110830 | 半導体装置の作製方法 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5110771 | 半導体装置の検査方法 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5108381 | 貼りあわせ方法、貼りあわせ装置、半導体装置の作製方法及び半導体装置の製造装置 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5110748 | 表示装置 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5106666 | 半導体装置 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5105811 | 表示装置 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5106703 | 半導体装置の作製方法 | 2012年12月26日 |
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5106136 5106564 5106573 5110821 5110772 5106647 5105948 5107400 5110830 5110771 5108381 5110748 5106666 5105811 5106703
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