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富士通セミコンダクター株式会社

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  2011年 出願公開件数ランキング    第93位 464件 上昇2010年:第158位 315件)

  2011年 特許取得件数ランキング    第53位 577件 上昇2010年:第129位 243件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特開 2011-29473 抵抗値調整回路 2011年 2月10日
特開 2011-29321 基板検査方法 2011年 2月10日
特開 2011-29286 半導体装置とその製造方法 2011年 2月10日
特開 2011-29255 半導体装置及びその製造方法 2011年 2月10日
特開 2011-29296 半導体装置の製造方法および半導体装置 2011年 2月10日 共同出願
特開 2011-23983 ネットワークノード 2011年 2月 3日
特開 2011-22694 検証支援プログラム、検証支援装置および検証支援方法 2011年 2月 3日
特開 2011-23549 マスクパターン評価方法、マスクパターン補正方法及びマスクパターン発生装置 2011年 2月 3日
特開 2011-23490 ボディバイアス制御回路及びボディバイアス制御方法 2011年 2月 3日
特開 2011-22757 レイアウト検証方法及びレイアウト検証装置 2011年 2月 3日
特開 2011-22752 記憶制御装置及び制御方法 2011年 2月 3日
特開 2011-22693 集積回路の設計方法、集積回路の設計プログラムおよび集積回路の設計装置 2011年 2月 3日
特開 2011-23110 マルチポートメモリおよびその制御方法 2011年 2月 3日
特開 2011-23454 強誘電体膜を有するデバイスの製造方法及び熱処理装置 2011年 2月 3日
特開 2011-23390 デバイスの製造方法及びデバイス 2011年 2月 3日

464 件中 391-405 件を表示

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2011-29473 2011-29321 2011-29286 2011-29255 2011-29296 2011-23983 2011-22694 2011-23549 2011-23490 2011-22757 2011-22752 2011-22693 2011-23110 2011-23454 2011-23390

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