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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第144位 349件
(2012年:第103位 453件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第64位 612件
(2012年:第59位 620件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2013-148647 | 検証方法、検証プログラムおよび検証装置 | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-149318 | 半導体メモリ | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-149314 | 半導体記憶装置の内部電圧生成回路、半導体記憶装置、及び半導体システム | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-149313 | 半導体記憶装置 | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-149856 | 電気ヒューズ | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-149775 | 半導体装置の製造方法 | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-149677 | 半導体装置及びその製造方法 | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-149640 | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-150550 | 電源電圧制御回路及び電源電圧制御方法 | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-145856 | 関連付け方法、関連付けプログラム、および関連付け装置 | 2013年 7月25日 | 共同出願 |
特開 2013-145857 | 関連付け方法、関連付けプログラム、および関連付け装置 | 2013年 7月25日 | 共同出願 |
特開 2013-145896 | 半導体装置の製造方法 | 2013年 7月25日 | |
特開 2013-143018 | 基準電圧生成回路,それを有する発振回路および発振回路の発振周波数の校正方法 | 2013年 7月22日 | |
特開 2013-143628 | 半導体装置 | 2013年 7月22日 | |
特開 2013-143516 | 多値磁気抵抗メモリおよび多値磁気抵抗メモリの製造方法 | 2013年 7月22日 |
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2013-148647 2013-149318 2013-149314 2013-149313 2013-149856 2013-149775 2013-149677 2013-149640 2013-150550 2013-145856 2013-145857 2013-145896 2013-143018 2013-143628 2013-143516
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2月26日(水) -
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2月26日(水) -
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2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
3月4日(火) - 東京 港区
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
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3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
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3月4日(火) - 東京 港区
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