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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第93位 464件
（
2010年：第158位 315件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第53位 577件
（2010年：第129位 243件）
（ランキング更新日：2025年6月5日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4846306 | 半導体記憶装置及びそれを用いた半導体集積回路システム並びに半導体記憶装置の制御方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4846755 | 携帯型電子機器 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4846570 | 半導体基板および半導体装置の製造方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4847152 | 半導体装置とその製造方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4845664 | 塗布装置 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4845475 | 画像表示装置およびその制御方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4845624 | 半導体装置とその製造方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4846381 | 帯域割り当て方法、通信制御装置及び通信装置 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4847383 | 順序回路及びその高速化方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4846721 | 半導体装置とその製造方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4846493 | デバッグシステム及びデバッグ回路 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4845400 | 半導体装置の設計方法および半導体装置 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4845299 | 半導体装置の製造方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4845543 | 遅延故障試験回路 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4846605 | タイミング検証方法、及びタイミング検証装置 | 2011年12月28日 |
577 件中 1-15 件を表示
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4846306 4846755 4846570 4847152 4845664 4845475 4845624 4846381 4847383 4846721 4846493 4845400 4845299 4845543 4846605
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