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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第103位 453件
（
2011年：第93位 464件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第59位 620件
（2011年：第53位 577件）
（ランキング更新日：2025年2月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5045364 | 半導体記憶装置 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5045294 | カスコードカレントミラー回路を有する内部電源回路 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5044953 | 半導体装置の検査装置及び検査方法 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5045022 | 半導体記憶装置 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5045101 | 半導体装置及びその製造方法 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5044095 | 半導体装置の製造方法 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5045245 | 撮像装置および画像処理方法 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5045730 | レベル変換回路 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5045027 | 静電気放電保護回路及び半導体装置 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5045179 | テーブル値変換装置 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5045167 | 発振回路及び半導体装置 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5040803 | プログラム及び記録媒体 | 2012年10月 3日 | |
| 特許 5040315 | 検査方法、検査システムおよび検査装置 | 2012年10月 3日 | |
| 特許 5040369 | 画像処理装置、および画像処理方法 | 2012年10月 3日 | |
| 特許 5040449 | 固体撮像素子および固体撮像素子を用いた信号処理方法 | 2012年10月 3日 |
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5045364 5045294 5044953 5045022 5045101 5044095 5045245 5045730 5045027 5045179 5045167 5040803 5040315 5040369 5040449
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