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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第155位 297件
（
2013年：第144位 349件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第83位 448件
（2013年：第64位 612件）
（ランキング更新日：2025年2月18日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5556505 | マスクパターン補正方法及びマスクパターン補正装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5556473 | 露光データの作成方法、露光データ作成装置及び半導体装置の製造方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5559452 | 半導体装置及びその製造方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5556490 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5556059 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5556420 | 位相同期ループ回路および位相同期ループ回路の制御方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5549403 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5549622 | 故障診断方法、故障診断装置、テストシステム及びプログラム | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5549094 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5552916 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5549458 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5549411 | 半導体素子の製造方法、半導体メモリの製造方法、及び半導体素子 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5549219 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5548332 | 半導体デバイスの製造方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5549313 | ＰＬＬ回路 | 2014年 7月16日 |
448 件中 151-165 件を表示
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5556505 5556473 5559452 5556490 5556059 5556420 5549403 5549622 5549094 5552916 5549458 5549411 5549219 5548332 5549313
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