ホーム > 特許ランキング > 富士通セミコンダクター株式会社 > 2014年 > 特許一覧
富士通セミコンダクター株式会社
※ ログインすれば出願人(富士通セミコンダクター株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2014年 出願公開件数ランキング 第155位 297件
（
2013年：第144位 349件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第83位 448件
（2013年：第64位 612件）
（ランキング更新日：2025年5月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5556505 | マスクパターン補正方法及びマスクパターン補正装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5556473 | 露光データの作成方法、露光データ作成装置及び半導体装置の製造方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5559452 | 半導体装置及びその製造方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5556490 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5556059 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5556420 | 位相同期ループ回路および位相同期ループ回路の制御方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5549403 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5549622 | 故障診断方法、故障診断装置、テストシステム及びプログラム | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5549094 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5552916 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5549458 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5549411 | 半導体素子の製造方法、半導体メモリの製造方法、及び半導体素子 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5549219 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5548332 | 半導体デバイスの製造方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5549313 | ＰＬＬ回路 | 2014年 7月16日 |
448 件中 151-165 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5556505 5556473 5559452 5556490 5556059 5556420 5549403 5549622 5549094 5552916 5549458 5549411 5549219 5548332 5549313
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。富士通セミコンダクター株式会社の知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
5月30日(金) -
5月30日(金) -
5月30日(金) -
6月4日(水) -
6月4日(水) -
6月4日(水) -
6月5日(木) -
6月6日(金) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
埼玉県戸田市上戸田３－１３－１３ ガレージプラザ戸田公園Ａ－２ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
千葉県船橋市本町6-2-10 ダイアパレスステーションプラザ315 特許・実用新案 商標 外国商標 コンサルティング
〒951-8152 新潟県新潟市中央区信濃町21番7号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
