ホーム > 特許ランキング > 富士通セミコンダクター株式会社 > 2014年 > 特許一覧
富士通セミコンダクター株式会社
※ ログインすれば出願人(富士通セミコンダクター株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2014年 出願公開件数ランキング 第155位 297件
（
2013年：第144位 349件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第83位 448件
（2013年：第64位 612件）
（ランキング更新日：2025年5月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5509952 | シミュレーション方法、シミュレーション装置、プログラム、及び記憶媒体 | 2014年 6月 4日 | |
| 特許 5509573 | 静電気放電保護回路及びそれを有する集積回路装置 | 2014年 6月 4日 | |
| 特許 5510252 | オペアンプ | 2014年 6月 4日 | |
| 特許 5504721 | 集積回路の設計方法、集積回路の設計プログラムおよび集積回路の設計装置 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5505274 | スタティックＲＡＭ | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5505383 | 研磨装置及び研磨方法 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5505184 | 半導体装置及びその製造方法 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5505074 | リーク電流モニタ、リーク電流モニタ方法、及び、半導体装置の製造方法 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5504993 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5504663 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5499804 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 5月21日 | |
| 特許 5499780 | 半導体装置及びその製造方法 | 2014年 5月21日 | |
| 特許 5499696 | 半導体装置及び実装構造 | 2014年 5月21日 | |
| 特許 5499641 | 半導体装置及びその設計方法並びに半導体装置の製造方法 | 2014年 5月21日 | |
| 特許 5499988 | 画像処理装置 | 2014年 5月21日 |
448 件中 226-240 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5509952 5509573 5510252 5504721 5505274 5505383 5505184 5505074 5504993 5504663 5499804 5499780 5499696 5499641 5499988
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。富士通セミコンダクター株式会社の知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
6月4日(水) -
6月4日(水) -
6月4日(水) -
6月5日(木) -
6月6日(金) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
埼玉県久喜市久喜東６－２－４６ パレ・ドール久喜２－２０３ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都府中市寿町一丁目１－１１ 第２福井ビル５階 No.2 Fukui Bldg. 5F 1-11, Kotobukicho 1chome, Fuchu-shi Tokyo JAPAN 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
Floor 16, Tower A, InDo Building, A48 Zhichun Road, Haidian District, Beijing 100098, P.R. China 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
