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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第93位 464件
（
2010年：第158位 315件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第53位 577件
（2010年：第129位 243件）
（ランキング更新日：2025年6月6日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4841282 | 電源装置の制御回路、電源装置、およびその制御方法 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4842876 | 故障診断装置及び故障診断方法 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4839155 | アクセス調停装置およびアクセス調停方法 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4841847 | ＤＬＬ回路を内蔵する集積回路装置及びその試験方法 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4842592 | 半導体装置およびその製造方法 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4843304 | フォトマスクの製造方法、デバイスの製造方法、及び、フォトマスクのモニタ方法 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4841027 | 半導体装置の製造方法 | 2011年12月21日 | 共同出願 |
| 特許 4842164 | フォトマスク及び半導体装置の製造方法 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4838009 | リコンフィグラブル回路 | 2011年12月14日 | |
| 特許 4838501 | 撮像装置及びその製造方法 | 2011年12月14日 | |
| 特許 4838458 | 半導体装置 | 2011年12月14日 | |
| 特許 4838741 | 密着性評価方法 | 2011年12月14日 | |
| 特許 4836416 | 半導体装置の製造方法 | 2011年12月14日 | |
| 特許 4838026 | 半導体装置の製造方法 | 2011年12月14日 | |
| 特許 4837902 | 半導体装置 | 2011年12月14日 |
577 件中 16-30 件を表示
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4841282 4842876 4839155 4841847 4842592 4843304 4841027 4842164 4838009 4838501 4838458 4838741 4836416 4838026 4837902
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