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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第144位 349件
（
2012年：第103位 453件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第64位 612件
（2012年：第59位 620件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5370370 | プローバ、試験装置、及び半導体チップの検査方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5369668 | グラフィックス表示装置 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5369981 | 欠陥観察装置、欠陥観察方法、及び半導体装置の製造方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5369771 | ラッチ回路 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5369764 | 半導体装置 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5369542 | 固体撮像素子の製造方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5369533 | 強誘電体メモリの製造方法および試験システム | 2013年12月18日 | |
| 特許 5369491 | 半導体装置 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5365683 | 誤り訂正装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5365577 | 半導体装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5365649 | 半導体装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5365028 | 半導体記憶装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5365514 | 半導体装置およびその製造方法 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5364978 | 表面改質カーボンナノチューブ系材料、その製造方法、電子部材および電子装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5365664 | セキュアプロセッサ | 2013年12月11日 |
612 件中 16-30 件を表示
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5370370 5369668 5369981 5369771 5369764 5369542 5369533 5369491 5365683 5365577 5365649 5365028 5365514 5364978 5365664
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